고전압 세라믹 커패시터의 신뢰성 테스트 포함
노화 테스트 또는 수명 테스트라고도 알려진 고전압 세라믹 커패시터의 신뢰성 테스트는 실제 응용 분야에서 안정성과 신뢰성을 보장하기 위해 테스트 내용의 여러 측면을 다룹니다. 중요한 회로에서 HVC 커패시터를 사용하는 세계 최고의 고객이 따르는 프로세스 .
직렬 저항 테스트 및 절연 저항 테스트: 이 테스트는 커패시터의 전기적 성능을 평가하는 데 사용됩니다. 직렬 저항 테스트는 커패시터의 등가 직렬 저항을 측정하여 회로에서 정상적인 작동을 보장하는 데 사용됩니다. 절연 저항 테스트는 커패시터의 절연 성능을 평가하여 고전압 환경에서 누설이 발생하지 않는지 확인하는 데 사용됩니다.
인장 시험 : 이 테스트는 커패시터 리드와 칩 납땜의 견고성을 평가하는 것을 목표로 합니다. 인장력을 적용하여 실제 사용 중인 커패시터의 응력 상황을 시뮬레이션함으로써 리드와 칩 사이의 견고하고 안정적인 연결이 보장됩니다.
긍정적이고 부정적인 온도 변화율 테스트: 이 테스트는 다양한 온도에서 커패시터의 성능 안정성을 평가하는 데 사용됩니다. 커패시터를 -40°C ~ +60°C의 온도 범위에 노출하고 정전용량 값의 변화율을 측정함으로써 다양한 온도 환경에서 커패시터의 신뢰성이 보장됩니다.
노화 테스트: 이 테스트는 시뮬레이션된 실제 작업 환경 조건에서 고전압 세라믹 커패시터에 대한 장기 작동 테스트입니다. 일반적으로 장기간 사용 시 성능 안정성을 평가하기 위해 커패시터의 다양한 매개변수 감쇠를 테스트하기 위해 30~60일 동안 지속적으로 실행됩니다.
내전압 시험: 이 테스트에는 정격 전압에서 커패시터의 신뢰성을 보장하기 위해 정격 작동 전압에서의 24시간 작동 테스트가 포함됩니다. 또한 내전압 시험도 실시하여 정격 전압보다 높은 전압을 커패시터가 파손될 때까지 인가합니다. 항복 전의 임계 전압은 커패시터의 내전압 성능을 평가하는 데 사용되는 항복 전압입니다.
부분 방전 테스트: 이 테스트는 커패시터의 부분 방전을 감지하는 데 사용됩니다. 고전압을 인가하여 부분 방전 유무를 관찰함으로써 커패시터의 절연 성능과 안정성을 평가할 수 있습니다.
수명 테스트: 본 시험은 에이징 시험을 기본으로 고주파 임펄스 전류 하에서 커패시터에 급속 충방전 시험을 실시하여 충방전 수명을 평가하는 시험입니다. 충전 및 방전 횟수를 기록함으로써 커패시터의 충전 및 방전 수명을 얻을 수 있습니다. 이 수명에 대한 평가는 장기간의 노화 테스트 후에 얻어졌다는 점에 유의해야 합니다.
고전압 세라믹 커패시터에 대해 이러한 신뢰성 테스트를 수행함으로써 다양한 작업 환경에서의 안정성과 신뢰성을 보장할 수 있으므로 고성능 및 장수명 커패시터에 대한 전자 장치의 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 이러한 테스트는 커패시터 제조업체 및 전자 장비 제조업체의 제품 개발 및 품질 관리 프로세스에서 중요한 부분입니다.
