एचवी संधारित्र सुविधा आवेदन

इलेक्ट्रॉनिक घटकों के मुख्य विफलता मोड में ओपन सर्किट, शॉर्ट सर्किट, बर्नआउट, विस्फोट, रिसाव, कार्यात्मक विफलता, विद्युत पैरामीटर बहाव, अस्थिर विफलता इत्यादि शामिल हैं, लेकिन इतनी ही सीमित नहीं हैं। हार्डवेयर इंजीनियरों के लिए, इलेक्ट्रॉनिक घटकों की विफलता बहुत है परेशानी की बात, जैसे एक अर्धचालक उपकरण जो अच्छी उपस्थिति में है लेकिन वास्तव में आधा विफलता या पूर्ण-विफलता हार्डवेयर सर्किट को डिबग करने में काफी समय व्यतीत करेगी, और कभी-कभी विमान को भी उड़ाती है। आज हम मुख्य रूप से कैपेसिटर, प्रतिरोधक और inductors के बारे में बात करते हैं।

कैपेसिटर की विफलता मोड और तंत्र

कैपेसिटर्स के सामान्य विफलता मोड में शामिल हैं: ब्रेकडाउन शॉर्ट सर्किट; घातक विफलता खुला सर्किट; घातक विफलता विद्युत मानकों में परिवर्तन (कैपेसिटेंस अतिरिक्त, हानि कोण टेंगेंट मूल्य वृद्धि, इन्सुलेशन प्रदर्शन गिरावट या रिसाव वर्तमान वृद्धि सहित); आंशिक विफलता रिसाव; आंशिक विफलता नेतृत्व संक्षारण या फ्रैक्चर; घातक विफलता इन्सुलेटर टूटना; इन्सुलेटर सतह चाप की घातक विफलता; कार्य की आंशिक विफलता, कारण संधारित्र विफलता कारणों की एक किस्म है। विभिन्न कैपेसिटर्स की सामग्री, संरचना, विनिर्माण प्रक्रिया, प्रदर्शन और सेवा वातावरण अलग-अलग हैं, और विफलता तंत्र भी अलग है।

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चीनी निर्मित एचवी सिरेमिक कैपेसिट<{$vo.time|date='Ym-d',###}>
चीनी निर्मित एचवी सिरेमिक कैपेसिट<{$vo.time|date='Ym-d',###}>
Повышение качеств<{$vo.time|date='Ym-d',###}>
लीड-प्रकार के बीच अंतर<{$vo.time|date='Ym-d',###}>
मुख्य पृष्ठ<{$vo.time|date='Ym-d',###}>
セラミックコンデンサー<{$vo.time|date='Ym-d',###}>
एपॉक्सी ले की गुणवत्ता बढ़ाना<{$vo.time|date='Ym-d',###}>
40KVDC 15000 के परीक्षण परिणाम<{$vo.time|date='Ym-d',###}>

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