Ang reliability testing ng high-voltage ceramic capacitors, na kilala rin bilang aging testing o life testing, ay sumasaklaw sa maraming aspeto ng testing content para matiyak ang stability at reliability nito sa mga praktikal na aplikasyon. Sumusunod sa proseso ng maraming nangungunang kliyente sa mundo na gumagamit ng HVC's capacitor sa kanilang critical circuit .
Pagsubok sa paglaban ng serye at pagsubok ng paglaban sa pagkakabukod: Ang mga pagsubok na ito ay ginagamit upang suriin ang pagganap ng kuryente ng mga capacitor. Ang series resistance test ay ginagamit upang sukatin ang katumbas na series resistance ng mga capacitor upang matiyak ang kanilang normal na operasyon sa circuit. Ang insulation resistance testing ay ginagamit upang suriin ang insulation performance ng mga capacitor upang matiyak na hindi sila makakaranas ng leakage sa mga high-voltage na kapaligiran.
Pagsubok sa tensile: Ang pagsubok na ito ay naglalayong suriin ang katatagan ng mga lead ng kapasitor at paghihinang ng chip. Sa pamamagitan ng pagtulad sa sitwasyon ng stress ng mga capacitor sa aktwal na paggamit sa pamamagitan ng paglalapat ng tensile force, natitiyak ang matatag at maaasahang koneksyon sa pagitan ng mga lead at chip.
Positibo at negatibong pagsubok sa rate ng pagbabago ng temperatura: Ang pagsubok na ito ay ginagamit upang suriin ang katatagan ng pagganap ng mga capacitor sa iba't ibang temperatura. Sa pamamagitan ng paglalantad ng kapasitor sa isang hanay ng temperatura na -40 °C hanggang +60 °C at pagsukat ng rate ng pagbabago ng halaga ng kapasidad nito, natitiyak ang pagiging maaasahan ng kapasitor sa iba't ibang mga kapaligiran ng temperatura.
Pagsusuri sa pagtanda: Ang pagsubok na ito ay isang pangmatagalang pagsubok sa pagpapatakbo sa mga high-voltage na ceramic capacitor sa ilalim ng kunwa na aktwal na mga kondisyon sa kapaligiran sa pagtatrabaho. Karaniwan, ito ay patuloy na tumatakbo sa loob ng 30 hanggang 60 araw upang subukan ang pagpapalambing ng iba't ibang mga parameter ng kapasitor upang suriin ang katatagan ng pagganap nito sa pangmatagalang paggamit.
Pagsubok sa pagtiis ng boltahe: Kasama sa pagsubok na ito ang isang 24 na oras na pagsubok sa pagtatrabaho sa na-rate na boltahe sa pagtatrabaho upang matiyak ang pagiging maaasahan ng kapasitor sa na-rate na boltahe. Bilang karagdagan, ang isang breakdown voltage withstand test ay isinasagawa din, na naglalapat ng isang boltahe na mas mataas kaysa sa rate ng boltahe nito sa kapasitor hanggang sa ito ay makaranas ng pagkasira. Ang kritikal na boltahe bago ang pagkasira ay ang boltahe ng pagkasira, na ginagamit upang suriin ang kakayahang makatiis ng boltahe ng mga capacitor.
Pagsubok ng partial discharge: Ang pagsubok na ito ay ginagamit upang makita ang bahagyang discharge ng mga capacitor. Sa pamamagitan ng paglalapat ng mataas na boltahe at pagmamasid sa pagkakaroon ng bahagyang discharge, ang pagganap ng pagkakabukod at katatagan ng kapasitor ay maaaring masuri.
Pagsubok sa buhay: Isinasagawa ang pagsusulit na ito batay sa aging testing, sa pamamagitan ng pagsasagawa ng mabilis na pag-charge at pagdiskarga ng mga pagsubok sa mga capacitor sa ilalim ng high-frequency na impulse current upang suriin ang kanilang charging at discharging life. Sa pamamagitan ng pagtatala ng bilang ng mga oras ng pag-charge at pagdiskarga, maaaring makuha ang buhay ng pag-charge at pagdiskarga ng kapasitor. Dapat tandaan na ang pagsusuri ng haba ng buhay na ito ay nakuha pagkatapos ng pangmatagalang pagsubok sa pagtanda.
Sa pamamagitan ng pagsasagawa ng mga pagsubok na ito sa pagiging maaasahan sa mga high-voltage na ceramic capacitor, ang kanilang katatagan at pagiging maaasahan sa iba't ibang mga kapaligiran sa pagtatrabaho ay masisiguro, kaya natutugunan ang mga kinakailangan ng mga elektronikong aparato para sa mga capacitor na may mataas na pagganap at mahabang buhay. Ang mga pagsubok na ito ay isang mahalagang bahagi ng pagbuo ng produkto at proseso ng kontrol sa kalidad para sa mga tagagawa ng kapasitor at mga tagagawa ng elektronikong kagamitan.
