Uji reliabiliti kapasitor keramik tegangan tinggi, ogé katelah nguji sepuh atanapi uji kahirupan, nyertakeun sababaraha aspék nguji eusi pikeun mastikeun stabilitas sareng reliabilitasna dina aplikasi praktis. .
Tés résistansi séri sareng uji résistansi insulasi: Tés ieu dianggo pikeun ngira-ngira kinerja listrik kapasitor. Tés résistansi séri digunakeun pikeun ngukur résistansi séri anu sarua tina kapasitor pikeun mastikeun operasi normalna dina sirkuit. Uji résistansi insulasi dianggo pikeun ngira-ngira kinerja insulasi kapasitor pikeun mastikeun yén aranjeunna henteu ngalaman bocor dina lingkungan tegangan tinggi.
Uji tegangan: Tés ieu boga tujuan pikeun ngira-ngira kateguhan kalungguhan kapasitor sareng solder chip. Ku simulating kaayaan stress kapasitor dina pamakéan sabenerna ku cara nerapkeun gaya tensile, sambungan teguh tur dipercaya antara ngawujud jeung chip geus ensured.
Uji laju parobahan suhu positip sareng négatip: Tés ieu dianggo pikeun ngira-ngira stabilitas kinerja kapasitor dina suhu anu béda. Ku exposing kapasitor ka rentang hawa tina -40 °C nepi ka +60 °C sarta ngukur laju robah tina nilai kapasitansi na, reliabiliti kapasitor dina lingkungan suhu béda geus ensured.
Tes sepuh: Tés ieu mangrupikeun tés operasi jangka panjang dina kapasitor keramik tegangan tinggi dina kaayaan lingkungan kerja anu nyata. Biasana, éta ngajalankeun terus-terusan salami 30 dugi ka 60 dinten pikeun nguji atenuasi rupa-rupa parameter kapasitor pikeun ngira-ngira stabilitas kinerjana dina panggunaan jangka panjang.
Tes tahan tegangan: Tés ieu kalebet tés kerja 24 jam dina tegangan kerja anu dipeunteun pikeun mastikeun réliabilitas kapasitor dina tegangan anu dipeunteun. Salaku tambahan, uji tahan tegangan rusak ogé dilaksanakeun, anu nerapkeun tegangan anu langkung luhur tibatan tegangan dipeunteunna ka kapasitor dugi ka ngalaman karusakan. Tegangan kritis saméméh ngarecahna nyaéta tegangan ngarecahna, nu dipaké pikeun evaluate kamampuhan tegangan tahan tina kapasitor.
Uji ngaleupaskeun parsial: Tés ieu dipaké pikeun ngadeteksi ngurangan parsial kapasitor. Ku nerapkeun tegangan tinggi jeung observasi ayana ngurangan parsial, kinerja insulasi jeung stabilitas kapasitor bisa dievaluasi.
Ujian hirup: Tés ieu dilakukeun dumasar kana tés sepuh, ku ngalaksanakeun tés ngecas sareng ngecas gancang dina kapasitor dina arus impuls frékuénsi luhur pikeun ngévaluasi kahirupan ngecas sareng ngecasna. Ku ngarekam jumlah ngecas na discharging kali, nu ngecas na discharging hirup tina kapasitor tiasa didapet. Perlu dicatet yén evaluasi umur hirup ieu dicandak saatos uji sepuh jangka panjang.
Ku ngalaksanakeun tés réliabilitas ieu dina kapasitor keramik tegangan tinggi, stabilitas sareng reliabilitasna dina sagala rupa lingkungan kerja tiasa dipastikeun, sahingga nyumponan sarat alat éléktronik pikeun kapasitor kinerja tinggi sareng umur panjang. Tés ieu mangrupikeun bagian penting tina pamekaran produk sareng prosés kontrol kualitas pikeun produsén kapasitor sareng pabrik alat éléktronik.
